НИЛ "БЭМС РЭС" и НИЛ "ФИЭМС"

Официальный сайт научно-исследовательских лабораторий: «Безопасность и электромагнитная совместимость радиоэлектронных средств» и «Фундаментальные исследования по электромагнитной совместимости»

Опубликована статья в журнале «Журнал Радиоэлектроники»

Опубликована статья «Оценка влияния производственных дефектов на характеристики  связанной микрополосковой линии» в «Журнал Радиоэлектроники». Авторы: магистрант Кузьмин Н.О., аспирант Мурманский М.С., к.т.н. Жечев Е.С.

Исследование выполнено за счет проекта госзадания FEWM-2024-0005.

Без рубрики